日本NFLCR测试仪ZM2376
日本NF/ZM2376数字电桥由启航检测科技（上海）有限公司*供应日本NF/ZM2376数字电桥
启航检测科技提供ZM2376维修、ZM2376说明书、ZM2376维修中心、ZM2376校准报告、ZM2376计量证书、ZM2376视频教学、ZM2376电池、ZM2376充电器等等
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ZM2371/ZM2372 附件
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• 电源线组件 (3极, 2m)
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• 使用说明书
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• CD (应用软件, LabVIEW驱动, 样例程序)
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ZM2376 附件
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• 电源线组件 (3极, 2m)
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1
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• CD (应用软件, 样例程序, IV测量仪驱动)
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实现快速、高精度的稳定测量
LCR测量仪系列
满足研究所需求、生产线需求
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型号
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品名
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ZM2371
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基本精度 0.08％，频率范围 1mHz～100kHz , 测量速度 *快2ms
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ZM2372
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基本精度 0.08％，频率范围 1mHz～100kHz , 测量速度 *快2ms，
4端子的接触检查功能，处理机接口
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ZM2376
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基本精度 0.08％，频率范围 1mHz～5.5MHz , 测量速度 *快2ms，
接触检查、低容量检查
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测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域的NF LCR 测量仪ZM系列
实现了快速且偏差小的稳定测量，可对应从材料研究到零部 件生产线等的各种用途
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偏差小的高再现性 测量示例
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按照以下条件使用ZM2372和ZM2376，对1nF的电容反复测量200次后得到的结果。
使用ZM2376，测量的再现性得到了进一步提高。
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测量时间：5ms
测量频率：100kHz
测量信号电平：1V
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宽频测量范围和高分辨率设定
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ZM2371与ZM2372覆盖了从1 mHz到100 kHz的测量频率范围，并拥有5位数的分辨率。ZM2376则覆盖了从1 mHz到5.5 MHz的测量频率范围，并拥有6位数的分辨率。该产品不但适用于一般电子产品的测量，还可以被应用于电池或其他材料的阻抗特性评估。
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高重复性的测量结果
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针对放电的保护功能
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在使用通用的测量仪器时，储存了电荷的电解电容器一旦被连接则会出现放电，而输入电路就很可能会被损坏。ZM系列针对放电的保护功能，可以保护输入电路不被此能量（*达4J）损坏。所以在测量中若不小心连接上储存了电荷的部件后，可以防止事故的发生。
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广域的测量电平和ALC功能
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对10mVrms～5Vrms/1μArms～200mArms的测量信号电平可进行3位数分辨率的设置。另外，利用ALC（自动电平控制）功能可以设置定电压/定电流驱动，因此可用考虑到试样电压/电流依赖性的稳定驱动信号来驱动，可实现高再现性的测量。
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快速测量
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测量时间可以在RAP (Rapid)，FAST，MED (Medium)，SLOW，VSLO (Very Slow) 这5种等级切换。选择RAP，可以实现2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速测量。快速、高精度的LCR测量仪有助于提高生产线及自动检查装置的测量效率。
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高精度
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实现了基本精度0.08%、显示分辨率*多6位数的高精度测量。值得信赖的测量在从*端器件的开发到检查线零部件分选，对提高产品性能和品质不可或缺的。
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DC偏置电压
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ZM2371与ZM2372的内置DC偏置电源为0~+2.5 V，ZM2376为0~+5 V。这一功能使得测量电解电容等具有极性元件成为了可能。使用ZM2376,可以以将电池的直流电压相抵消的方式，测量阻抗。
另外，针对更大的DC电压，还可以选购DC偏置适配器。使用外接DC电源，*达±40 V的DC偏置电压可以被施加到被测物体上，所以还可以测量大容量片式多层陶瓷电容的依赖性等。
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直流电阻 (DCR) 测量
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可测量线圈及变压器的卷线电阻的直流电阻。可以同时在主参数中显示电感，在副参数中显示直流电阻的测量值。
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接触检查功能
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ZM2372
4端子接触检查
为了防止因测量先端部与零部件间接触不良造成的误测量或错误分选，ZM2372采用4个测量端子来进行接触检查判断，由此排除不良产品。
（进行接触检查的额外时间 4ms)
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步骤1:
检查点线之间是否接通
（接触检查）
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接触不良时做出不良判定
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步骤2:
步骤1的接触检查后，进行点线间测量（主测量）
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ZM2376
接触检查、低容量检查
检测异常的低容量及电压、电流，无需额外时间就能检测出不良接触。
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触发电路同步驱动
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可以只在接触期间驱动试样的功能。
可以降低在测量大容量电容时，由于安装拆卸试样造成的接触损伤。在短时间内进行测量履历特性的试样，测量值会出现较大的误差。如使用触发电路同步驱动的话，加在各试样上的驱动信号和取得信号的时间以及相位关系都是固定的，可以抑制测量值的误差，大幅缩短测量时间。
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偏差显示
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预先设置测量部件的显示值，可显示与预设值的偏差、偏差%。 可应用于零部件容许差的规格值的合格判定及温度特性试验等。
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比较器
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主参数*可分为14个*的BIN类别，在副参数中可以对设定好的1组上下限值的测量结果进行分选。测量值可通过偏差或偏差%进行分选，判定结果通过处理器接口*输出。另外，根据判定结果，有时会发出哔噗的声音。
在远程控制中，使用限值判定功能，也可以对主参数、副参数的上下限值（各1组）进行判定。
*ZM2371：*多分9类，未配备处理器接口。
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复合测量 (ZM 2376)
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复合测量是指对一个试样*多可32个步骤的测量条件测量，综合的进行合格判定的功能。可设定每个步骤的测量频率、测量信号电平、内部DC偏压、测量参数等，对主参数的上下限值1组、副参数的上下限值1组进行测量和限值判定。
*ZM2376独有的功能。
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接口
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标配远程控制用的各种接口。无需追加选购件就可对应生产线嵌入及自动检查系统等。
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接口
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ZM2371
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ZM2372
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ZM2376
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USB
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○
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○
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○
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RS-232
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○
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○
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○
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GPIB
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-
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○
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○
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LAN
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-
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-
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○（选购）
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处理器
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-
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○
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○
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其他功能
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补正功能（开路补正，短路补正，负载补正，电缆线补正）
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设置、补正值存储（32组、保存在不挥发性储存中、可切换）
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电压电流测量功能
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应用软件（标配）
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样板程序（C#、VB.NET）
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标配LabVIEW驱动＜ZM2371/ZM2372＞
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IVI计测器驱动（在LabVIEW的系统上自动生成LabVIEW驱动）＜ZM2376＞
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项目
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ZM2371
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ZM2372
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ZM2376
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测量参数
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主参数：｜Z｜、｜Y｜、 L、 C、 R、 G
副参数： Q、 D、 θ、 X、 B、 Rs、 Rp、 G、 Lp、 Rdc
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测量频率
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1 mHz～100 kHz
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1 mHz～5.5 MHz
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基本精度
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0.08 %
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测量信号电平
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10mVrms～5Vrms、1μArms～200mArms
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内部DC偏置
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0～+2.5V
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0～+5V
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测量时间
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1kHz
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*快2ms
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1MHz
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—
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—
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*快2ms
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定电压/
定电流驱动（ALC）
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○
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○
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○
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接触检测
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—
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○（4端子）
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○
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低电容检测
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—
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—
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○
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比较器
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○（9分类）
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○（14分类）
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○（14分类）
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复合测量
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—
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—
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○（32步骤）
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处理器接口
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—
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○
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○
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ZM2371/ZM2372 附件
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• 电源线组件 (3极, 2m)
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• 使用说明书
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• CD (应用软件, LabVIEW驱动, 样例程序)
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ZM2376 附件
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• 电源线组件 (3极, 2m)
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• CD (应用软件, 样例程序, IV测量仪驱动)
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测试夹具、测试导线(单独出售)
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汇集了可对应各种应用的测量夹具。
*测量频率范围是考虑了误差因素的测量范围。
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通用部件
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可4端子测量的测试导线。可正确测量低抗阻。
开尔文夹测试导线是用2个电气绝缘电极相向而成的1个测量夹。
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4端子鳄鱼夹 测试导线 2324
测量频率 ≤100kHz
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开尔文测量夹 测试导线 ZM2392
测量频率 ≤20kHz
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适合高阻抗测量的遮蔽用导线的2端子连接的导线。
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3端子鳄鱼夹 测试导线 ZM2391
测量频率 ≤20kHz
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导线类部件
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只需要将试样插入导线中就能轻松测量的4端子法测试夹具。
可根据零部件大小来调整测量端子间隔。
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测试夹具 ZM2363
测量频率 ≤10MHz
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芯片部件
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通过2端子连线来测量表面着装部件的测试夹具。没有使用电缆，因此寄生电容及残留阻抗小，能够正确的进行开路补偿、短路补偿。
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芯片测试夹具 ZM2394
测量频率 ≤2MHz
对应部件尺寸0603（厚度0.3mm）～14mm角
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芯片测试夹具 ZM2394H
测量频率 ≤36MHz
对应部件尺寸0603（厚度0.3mm）～14mm角
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芯片测试夹具 ZM2393
测量频率 ≤1.2MHz
对应部件尺寸1608～5750
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遮蔽测量接口的3端子构造的芯片部件用测试导线。寄生电容小，容易测量小容量电容。
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芯片部件用测试导线 ZM2366
测量频率 ≤10MHz
先端间隔 1~8mm (typ.)
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芯片部件用测试导线 2326A
测量频率 ≤1.2MHz
先端间隔 1~8mm (typ.)
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适配器
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DC电压偏置适配器
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可在试样上加载±40V的偏置电压的适配器。可以简单的与LCR测量仪及测试夹具连接。
（4端子对构造）
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ZM2329（ZM2376用）
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ZM2328（ZM2371/ZM2372用）
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资质已审查
测量1 nF的电容
